图像处理算法

一、纳米级缺陷的捕获极限在半导体检测领域,纳米级缺陷的捕获至关重要。紫外工业相机在这方面展现出了独特的优势。首先,从图像传感器的角度来看,紫外工业相机配备的传感器对紫外光更为敏感,能够捕捉到可见光相机难以察觉的细微缺陷。例如,在半导体芯片制造过程中,一些纳米级的划痕、杂质等缺陷,只有在紫外光的照射下才能清晰地显现出来。目前,行业内紫外工业相机对纳米级缺陷的捕获精度平均在 5 - 10 纳米左右。不

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